• Головна / Main Page
  • Стрічка новин / Newsline
  • АРХІВ / ARCHIVE
  • RSS feed
  • Неопределенность в области 32-нм техпроцесса
    Опубликовано: 2006-02-22 17:01:00

    Помимо инноваций представленных компанией IBM на SPIE Microlithography 2006, были и выступления специалистов в данной области, напомнившие, что переход на 32-нм техпроцесс должен состояться в 2009 году, но четкой перспективы в поиске альтернативы не наблюдается. Эксперты бельгийского исследовательского центра IMEC выделяют три кандидата на место будущей технологии - с двойным экспонированием, «ультрафиолетовая» (extreme ultraviolet, EUV) и 193-нм иммерсионная.

    Наименьший риск при производстве по нормам 32-нм технологического процесса имеют технология с двойным экспонированием и иммерсионная литография. IBM сообщила, что 193-нм технология Deep-UV позволила создать 29,9-нм структуры, а руководители IMEC по той же технологии в стенах собственной лаборатории произвели 40-нм элементы.

    Для дальнейшего развития оптической литографии ключевую роль ает иммерсионные жидкости второго и третьего поколения, коэффициенты преломления которых - 1,65 и 1,8. Что же до технологии с двойным экспонированием, то ее основные недостатки – неровности по краям, высокая стоимость производства, чувствительность и разрешение фоторезистора. А ведь, несмотря на эти проблемы Intel возлагает на EUV большие надежды, или уже нет?

    Инф. 3DNews

     

    agrinews.com.ua

    Внимание!!! При перепечатке авторских материалов с AgriNEWS.COM.UA активная ссылка (не закрытая в теги noindex или nofollow, а именно открытая!!!) на портал "Новости агробизнеса AgriNEWS.COM.UA" обязательна.

    E-mail:
    info@agrinews.com.ua
    При использовании информации в электронном виде активная ссылка на agrinews.com.ua обязательна.